Academia Ciemonline

Diseña y justifica tamaños de muestra en SEM con rigor metodológico.

Laboratorio Tamaño de Muestra, Precisión y Justificación Metodológica para Modelos de Ecuaciones Estructurales (SEM) | Curso en vivo

Aprende a definir, comparar y justificar el tamaño de muestra en CB-SEM y PLS-SEM con criterios actuales basados en potencia, precisión y estabilidad, evitando reglas heurísticas (N≥200, regla del 10) y usando el Laboratorio CIEM IA+ (SEM PRO) como herramienta central para construir decisiones metodológicas defendibles en tesis y artículos científicos.

El aprendizaje se organiza en tres ejes clave:

  • Diseño de precisión para tamaño de muestra en SEM

    Convierte el tamaño de muestra en una decisión metodológica sólida: precisión, supuestos explícitos y escenarios defendibles, no “reglas de dedo”.

  • CB-SEM vs PLS-SEM: potencia, RMSEA y estabilidad

    Diferencia cuándo aplicar criterios de RMSEA y grados de libertad (CB-SEM) y cuándo priorizar potencia estructural y tamaño del efecto (PLS-SEM).

  • Justificación metodológica lista para paper / tesis

    Aprende a traducir el análisis del laboratorio a redacción metodológica (APA/Vancouver): qué justificar, qué no, y cómo reportarlo con lenguaje aceptado por revisores.

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748.000 pesos colombianos

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Inscripción hasta el 5 de ferbrero

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Modalidad de estudio

Curso virtual sincrónico (o presencial / híbrido, según lo ofrezcas) con trabajo aplicado en vivo. 10 encuentros de 2 horas (20–22 horas total).

Enfoque teórico–aplicado (sin trabajo final), basado en ejercicios y análisis de artículos reales.

Público objetivo

Dirigido a:
• Profesores universitarios e investigadores
• Doctorandos y estudiantes de posgrado
• Autores de artículos científicos
• Tesistas que trabajen con SEM (CB-SEM o PLS-SEM)

Requisitos del curso

• Conocimientos básicos de estadística multivariada
• Familiaridad general con SEM (no es introductorio)
• Acceso al Laboratorio CIEM IA+ (SEM PRO) (incluido en la compra del curso)
• Software opcional (solo ilustrativo): JASP, AMOS/LISREL, SmartPLS

Objetivo principal del curso

Que el participante sea capaz de definir y justificar el tamaño de muestra en modelos CB-SEM y PLS-SEM, utilizando criterios actuales de potencia, precisión y estabilidad, apoyándose en el Laboratorio CIEM IA+ (SEM PRO).

Sesiones del curso

SESIÓN 1 SEM como decisión metodológica (no como software)

🎯 Objetivo de la sesión

Que el participante cambie el marco mental con el que entiende SEM y el tamaño de muestra:
👉 de “procedimiento técnico” a “decisión metodológica con consecuencias científicas”.

SESIÓN 2 Modelo de medida vs modelo estructural: el Bloque 0 de SEM

🎯 Objetivo de la sesión
Que el participante distinga con claridad absoluta:
• qué pertenece al modelo de medida
• qué pertenece al modelo estructural
• y por qué confundirlos distorsiona el tamaño de muestra y la potencia

Sesión 3. Constructos reflectivos y formativos

Objetivo de la sesión:
Que el participante distinga con claridad conceptual y metodológica entre constructos reflectivos y formativos, comprendiendo las implicaciones reales que esta decisión tiene sobre la especificación del modelo, la identificación, el tamaño de muestra y la potencia estadística.

Sesión 4. CB-SEM vs PLS-SEM: enfoques, supuestos y decisiones

Objetivo de la sesión:
Que el participante comprenda las diferencias fundamentales entre CB-SEM y PLS-SEM, superando enfoques dogmáticos y desarrollando la capacidad de elegir el método adecuado según el objetivo del estudio, la teoría y las condiciones de los datos.

Sesión 5. Reglas de dedo en SEM: crítica y alternativas

Objetivo de la sesión:
Que el participante analice críticamente el uso de reglas empíricas para definir tamaño de muestra en SEM y sea capaz de reemplazarlas por criterios metodológicos fundamentados.

Sesión 6. Tamaño de muestra en CB-SEM: potencia basada en RMSEA

Objetivo de la sesión:
Que el participante comprenda y aplique el análisis de potencia estadística en CB-SEM utilizando el enfoque basado en RMSEA y grados de libertad, integrando teoría y práctica mediante el laboratorio.

Sesión 7. Estabilidad, convergencia y riesgo estructural

Objetivo de la sesión:
Que el participante evalúe la estabilidad y confiabilidad estructural de un modelo SEM, diferenciando entre convergencia técnica y calidad metodológica, e identificando riesgos asociados a tamaños muestrales insuficientes.

Sesión 8. Tamaño de muestra y potencia en PLS-SEM

Objetivo de la sesión:
Que el participante analice la potencia estructural en PLS-SEM, comprendiendo sus particularidades frente a CB-SEM y desarrollando criterio para su uso responsable en investigación aplicada.

Sesión 9. Análisis a priori y post hoc del tamaño de muestra

Objetivo de la sesión:
Que el participante distinga y aplique correctamente los enfoques a priori y post hoc en el análisis del tamaño de muestra, comprendiendo sus alcances, limitaciones y usos metodológicos legítimos.

Sesión 10. Integración y redacción metodológica

Objetivo de la sesión:
Que el participante integre los criterios aprendidos y sea capaz de redactar y defender la justificación metodológica del tamaño de muestra y la potencia estadística en tesis, artículos científicos o informes técnicos.

León Dario Bello Parias

Estadístico con más de 40 años de experiencia docente en universidades de Colombia y América Latina. Es director de la Academia Ciemonline y autor de libros especializados en estadística y SEM.

Ha asesorado más de 100 tesis y ha trabajado en proyectos académicos en México, Argentina y Cuba.